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NEJM:芯片分析將成評價胎兒染色體異常的標準

2012-12-06 11:47 閱讀:2467 來源:生物通 作者:網(wǎng)* 責任編輯:網(wǎng)絡
[導讀] 研究顯示,芯片發(fā)現(xiàn)的染色體異常往往與顯著臨床問題有關。在此基礎上研究人員認為,芯片有望取代核型分析成為評價胎兒染色體異常的標準方法。

  染色體芯片分析是將胎兒DNA與正常DNA(對照)進行比較。研究顯示,芯片分析在識別普通染色體非整倍體現(xiàn)象時與核型分析一樣有效,此外芯片還能夠檢測到核型分析力所不及的一些其他異常。染色體非整倍體現(xiàn)象是指染色體數(shù)量異常,會導致唐氏綜合癥和Edwards綜合癥等疾病。

  研究人員指出,有時核型分析并未檢測到,但超聲檢查發(fā)現(xiàn)胎兒生長或結(jié)構(gòu)不正常。這類病例中有6%都可以通過芯片檢測發(fā)現(xiàn)染色體的缺失或加倍。對于高齡產(chǎn)婦或疾病篩查呈陽性的病例來說,在核型分析為正常時有1.7%都可已經(jīng)由芯片檢測到異常。

  研究顯示,芯片發(fā)現(xiàn)的染色體異常往往與顯著臨床問題有關。在此基礎上研究人員認為,芯片有望取代核型分析成為評價胎兒染色體異常的標準方法。

  核型分析和芯片都需要通過羊膜穿刺(從羊水獲得胎兒細胞)或絨毛取樣(從胎盤獲得胎兒細胞)來獲得胎兒細胞。父母在決定是否進行測試時需要謹慎衡量多種因素,包括胎兒異常的風險,測試可能導致的流產(chǎn),以及胎兒患病的后果。目前,人們正在開發(fā)更安全的檢測方法,例如采用母親的血樣,但還沒有取得可用于臨床的成果。研究人員希望當芯片檢測的安全方法被開發(fā)出來以后,每一個想要進行檢測的家庭都能夠負擔得起染色體芯片技術。


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